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Openterface MiniKVM 키보드·마우스 미동작 문제 근본 원인 분석

지난 한 달 동안 일부 사용자로부터 키보드 및 마우스 불안정에 대한 간헐적 보고를 받았습니다. 여기서는 발생 원인, 원인 규명 과정, 그리고 우리가 취한 조치 및 향후 계획을 투명하게 설명합니다.

첫 생산 배치: 안정적이고 호평

크라우드펀딩 기간 동안 첫 번째 배치로 4,000대의 Openterface MiniKVM를 생산했습니다。 이 배치는 내부 QA를 통과했으며 전반적인 품질이 좋았습니다。報告された問題はごくわずかで、大多数のユーザーは安定性と使用性に満足していました。

이를 통해 하드웨어 설계와 생산 공정에 대한 신뢰를 갖게 되었습니다。

두 번째 배치: 동일 설계·동일 공장·"동일" 부품

첫 배치が 매진된 후, 동일 공장과 동일 공급처에서 부품을 조달하여 두 번째 배치 500대를 生産しました。

핵심 부품 중 하나は WCH의 CH213K 이상(ideal) ダイオード입니다。 Openterface MiniKVM에서는 이 부품が 호스트 측과 타깃 측 사이의 USB 전源 경路를 보호·分離하여 역전류나 의도치 않은 전源 유입を 防ぎます。

두 번째 배치에서는 CH213K의 실크 인쇄 표기가 변경되었습니다:

  • 첫 배치: "13K"
  • 두 번째 배치: "3k10"

부품 번호, 공급업체, 공개 사양が 변경되지 않았기 때문에 초기에는 단순한 배치나 마킹 변경으로 보고 위험 요소로 인식하지 않았습니다。

CH213K_Compare.png

QA 결과: 놓치기 쉬운 미세 신호

첫 배치와 같은 QA 절차를 실행했습니다。 전체 불량률は 약간 증가했지만 우리가 허용する 범위内でした。 뚜렷한 단일 실패 모드는 없었고 결과는 특정 부품이나 설계를 가리키지 않았습니다。 지금 돌이켜보면 이 작은 성능 저하는 초기 信号였지만 우리는 깊이 조사하지 않았습니다。

사용자 보고가 심층 조사 촉발

지난달부터 키보드와 마우스 관련 불만が 증가했습니다。 주목할 점は 문제가 다음과 같은 변수들に依存한다는 것입니다:

  • 호스트 컴퓨터
  • 타깃 컴퓨터
  • 사용 중인 USB 케이블

이러한 가변성は 펌웨어나 USB 프로토콜의 문제가 아니라 전원 경로의 엣지 케이스를 시사합니다。 따라서 우리는 생산 배치 간의 모든 차이를 체계적으로 비교했습니다。

그 결과、"3k10" 표기의 CH213K 이상 다이오드가 영향을 받은 유닛의 공통 요소임を 확인했습니다。

근본 원인: 낮은 확률·환경 의존적 전원 불안정

전압 측정과 비교 테스트で 다음과 같은 동작を 관찰했습니다:

  • 구형 "13K" 다이오드를 쓴 유닛:
  • 테스트한 모든 호스트·타깃·케이블 조합에서 내부 USB 전압이 안정적이었습니다。
  • 새 표기 "3k10" ユニット:
  • 대부분の 경우内部電압は安定し、장치는正常に動作します。
  • しかし、ユーザー報告及び追加テストにより、約5%前後のごく一部ユニットが特定のホスト·ケーブル構成で内部電圧の不安定を示すことが分かりました。

このような動作は 決定的ではなく、すべての設定で再現されるわけではありません。よって標準QAでは再現が難しいです。しかし我々の出荷規模ではこの発生率は重要であり、即時対応が必要でした。

CH213KはUSB電源の経路に位置するため、この地点の電圧不安定は下流に伝播し、USB HIDの動作に影響を与え、キーボード·マウスの間欠的な故障を引き起こします。

同じCH213Kの表記であっても、印字や内部製造差によって動作が異なる可能性があります。

CH213K_InternalVoltage

検証: 출력측 커패시터 추가로 안정성 회복

가설を検証するため、次のハードウェア変更を導入しました:

  • CH213K 출력에 10 µF 커패시터 追加

この커패시터を追加すると、かつて問題が発生していた構成で内部電압の安定が回復しました。 키보드およびマウスの動作は正常に戻り、問題が電源の安定性に関連していることが確認されました。

fixed_test

또한、私たちは ESP32 기반의 빠른 QA 도구를 개발하여 MiniKVM ユニットの Vpp(ピークツーピーク電압リプル) をオシロスコープなしで測定できるようにしました。これにより、QA 엔지ニア는 생산 현장でも電源品質を迅速かつ一貫して検査でき、機能試験では捕捉しにくいエッジケースを選別できます。

ESP32_QA_Tool

영향받은 사용자에 대한 조치

기술 조사와 수정と 병행하여 사용자 영향을 최소화하고 지원 효율を 높이는 것에 주력했습니다:

  1. 크로스 플랫폼 자가 진단 도구 macOS, Windows, Linux용 자가 진단 도구를 제공하여 사용자가 문제가 본 이슈와 관련이 있는지 빠르게 확인하고 결과를 보고할 수 있게 했습니다。 확인된 사례に 대해서は 유통사 수준의 긴 검증 절차 없이 즉시 교체를 진행します。
  2. 출하 일시 중단 및 적극적 하드웨어 수정 문제 확인後、既存 재고의 출하を一時 中断しました。 이후出荷되는 재고には 커패시터 수정이 적용되어 있어 향후 판매에 영향이 없도록 했습니다。
  3. 실시간 기술 지원으로 빠른 해결 自己診断が難しいユーザーには、リアルタイム通話を提供し、メール往復を减少して迅速に原因を特定し解決します。

배운 점

이번事件から得た重要な 교훈は次のとおりです:

  1. 부품 번호が同じでも 전원 경로の部品はバッチまたは内部改良により微妙に動作が変わる可能性があります。
  2. QA 불량률의小さな増加は深刻な問題の初期兆候である可能性があります。
  3. USB 電源環境は現実世界で多様であり、制御されたテストでは完全に再現するのが難しいです。
  4. 문제発生時에는迅速な人対人のサポートが技術的修復に匹敵する重要性を持ちます。

우리의 약속

우리는 이 문제を早期に発見できなかったことを全責任으로負います。透明性を重視し、利用者には明確かつ誠実な技術説明を提供します。

앞으로의 대응:

  • USB 전源 경로の安定余裕を高めるために 하드웨어 設計を更新します。
  • 부품番号が同じであっても 전원 경로部品の特性検証を強化します。
  • ESP32 기반の 빠른 QA 도구を導入하여オシロスコープなしで Vpp を測定できるようにします。これにより電源安定性チェックを迅速かつ再現可能で、生産に拡張可能にします。
  • QA 임계値及びテストカバレッジを見直し、低確率かつ環境依存の問題をより早く検出できるようにします。

該当する可能性があると考える場合や環境固有の質問がある場合は、support@openterface.com に連絡してください。誠心誠意対応します。

감사합니다。

Openterface 팀 | TechxArtisan